私たちは日常でよくスマートフォンを利用します。スマートフォンは大変手軽に利用できる便利な機器です。このように手軽に利用できるスマートフォンなのですが、その中身は大変複雑な仕組みを持っています。ここで言う複雑とは、開けてみて中にたくさんの部品が入っているという意味合いではありません。
むしろ現在のスマートフォンの中を見ると、電子基板の上に数個のブロックが乗っているだけです。このような状況が現在の電子デバイスの特徴です。このようなことになった事情としては、電子デバイスを駆動する半導体素子が高度に小型化され集積化されているということです。実は、中身を見ていくつか見られるブロックの中には、100万個程度の半導体素子が組み込まれています。
このように多量の半導体素子により、スマートフォンの高機能が維持されます。ここで述べたように、現在のスマートフォンの特徴は大規模に集積化された半導体素子の集まりであるということです。この事は大変便利に利用できるという反面、細かいところまで検査ができないと言う難点を作り出すことになります。そのようなことで、半導体集積回路のチェックを行うためにはオリジナルソケットと検査治具を用いた方法が利用されます。
オリジナルソケットと検査治具を用いる理由としては、集積回路は動作するように環境が整えられていますので検査を行うためには取り外しなどをしなければならないのですが、それは大変な手間がかかってしまいますので、オリジナルソケット作り検査治具と組み合わせることで迅速に検査を行うようにされています。